技術(shù)編號:6736927
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及DDR3內(nèi)存控制器領(lǐng)域,具體涉及一種測試DDR3數(shù)據(jù)有效窗口的方法和裝置。背景技術(shù)在DDR3硬件設(shè)計中,由于PCB走線的差異,時鐘到達(dá)各個數(shù)據(jù)線的時刻并不一致, 這可能導(dǎo)致在同一時鐘對各個數(shù)據(jù)線進(jìn)行采樣時會出現(xiàn)偏差的問題。在用fpga設(shè)計DDR3 控制器時,都是通過fpga自帶的延時模塊調(diào)整采樣時鐘與數(shù)據(jù)之間的相位關(guān)系使時鐘與數(shù)據(jù)線保持對齊。由于數(shù)據(jù)線較多,需要耗費(fèi)大量的邏輯資源用于相位對齊以及數(shù)據(jù)有效窗口的查找,但是在fpga邏輯資源緊張的情況...
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