技術(shù)編號(hào):6739663
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及ー種在LSI中代表的薄膜器件、即內(nèi)置有多個(gè)RAM(隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)和邏輯電路的半導(dǎo)體芯片(半導(dǎo)體集成電路)中,有效適用于搭載RAM的測(cè)試電路和邏輯電路的測(cè)試電路時(shí)的技木,進(jìn)而涉及ー種用于確定RAM的救濟(jì)方法的技木。本發(fā)明是ー種有效適用于例如內(nèi)置有RAM和CPU(中央處理裝置)的系統(tǒng)LSI (大規(guī)模集成電路)等的邏輯LSI的技術(shù)。背景技術(shù) 近年來(lái),隨著搭載了 RAM、CPU等的稱(chēng)作系統(tǒng)LSI的邏輯LSI的高性能化,搭載在芯片內(nèi)的RAM的種類(lèi)及其搭載...
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