技術(shù)編號：6740165
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種檢測RAM生產(chǎn)缺陷的方法。背景技術(shù)宏觀的RAM (Random Access Memory,隨機存儲器)測試包括存儲單元的測試、數(shù)據(jù)線測試和地址線測試。對于控制線，由于對前兩者的測試中已經(jīng)附帶完成，因此不做專門測試。而地址線 的測試總是在假設(shè)數(shù)據(jù)線正常的情況下進行的，顯然需要先進行數(shù)據(jù)線的測試，然后才能進行地址線的測試。隨著集成電路規(guī)模的增大和集成度的提高，系統(tǒng)中RAM的數(shù)量越來越多，寬度和深度也各不相同，對其測試也需要進行細化。以往要完成對...
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