技術(shù)編號:6741474
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。以下描述涉及一種非易失性存儲裝置,所述非易失性存儲裝置使用多個電阻器產(chǎn)生參考電壓,并使用產(chǎn)生的參考電壓精確地檢測電可編程熔絲(e-fuse electronicallyprogrammable fuse)的狀態(tài)。背景技術(shù)即使當電流被切斷時,非易失性存儲器也用于保留存儲的信息,并且非易失性存儲器被用在電源管理集成電路(PMIC)、存儲卡數(shù)據(jù)(MCD)、顯示驅(qū)動芯片、互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)圖像傳感器等中。最近,一次性可編程(OTP)存儲器已被采用用于...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼,用于學(xué)習(xí)原理,如您想要源代碼請勿下載。