技術(shù)編號：6741864
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種利用光學(xué)手段對片狀電氣部件或片狀電子元件進(jìn)行外觀檢查并對所檢查的片狀元件進(jìn)行分類的方法和裝置。這些元、部件包括片狀電容、感應(yīng)線圈之類的磁心元件、電感電容復(fù)合元件等等。如果這種類型的元、部件在外部有不完善或缺陷，比如形狀不規(guī)則、尺寸的偏差、破漏、裂紋等，這些缺陷會使元件的性能變壞，并在將這些元件往基片上拼裝的過程中引起麻煩。因而，在檢查這些元件內(nèi)在特性的同時，還必須檢查它們的外觀。以前，片狀元件的外觀檢查是靠肉眼或借助放大鏡等工具來完成的。為便...
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