技術(shù)編號：6756567
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于半導(dǎo)體器件中的讀出電路，更具體來說，涉及一種適于對構(gòu)成讀出電路的MOS晶體管中閾值電壓的溫度相關(guān)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)淖x出電路， 一種用于讀出電路的溫度補(bǔ)償方法，以及一種數(shù) 據(jù)處理系統(tǒng)。背景技術(shù)公知的是，用于半導(dǎo)體器件中的MOS晶體管中的閾值電壓通常隨 著溫度而變化，并且電路的溫度裕度(margin)由此降低。之前已經(jīng)提 出許多技術(shù)來補(bǔ)償這樣的溫度相關(guān)性。例如，第S58-168310號日本專利申請?zhí)亻_中公開的技術(shù)涉及一種 MOS靜態(tài)存儲器中的讀出放...
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