技術(shù)編號(hào)：6763690
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及檢測(cè)由于在制造磁頭(例如HDD薄膜磁頭)的過(guò)程中滑塊的錯(cuò)誤而引起的污點(diǎn)。具體地說(shuō)，本發(fā)明涉及一種用于檢測(cè)磁頭污點(diǎn)的方法和裝置，該方法和裝置能夠在具有集成磁頭主體部分的滑塊在被切割為單獨(dú)的片之前為條形的狀態(tài)下檢測(cè)污點(diǎn)的存在。背景技術(shù) 配置這種類型的HDD薄膜磁頭的滑塊的一個(gè)實(shí)例(五個(gè)墊片的滑塊的實(shí)例)如圖9A和9B所示，另一個(gè)實(shí)例(四個(gè)墊片的滑塊的實(shí)例)如圖10A和10B所示。圖9A和10A說(shuō)明了具有集成磁頭主體部分10的滑塊SL在被分為單獨(dú)的片之...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
該類技術(shù)無(wú)源代碼，用于學(xué)習(xí)原理，如您想要源代碼請(qǐng)勿下載。