技術編號：6766638
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種，包括一個控制器、一個測試向量產生器、一個全局比較器和若干個本地比較器；在兼容傳統(tǒng)的內建自測試的基礎上，使用一個額外的控制信號可以實現同時對多個存儲器或者一個存儲器的多個存儲模塊進行并行測試，從而顯著減少測試時間，節(jié)約布局面積。專利說明[0001]本發(fā)明屬于存儲器，涉及一種，尤其涉及一種嵌入式靜態(tài)隨機存儲器的快速內建自自測試系統(tǒng)及方法。背景技術[0002]存儲器的 內建自自測試(MBIST)是一種廣泛應用的可測性設計技術，它通過在芯片上內建的...
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