技術(shù)編號(hào)：6781318
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明的涉及集成電路的順序存儲(chǔ)電路中的軟錯(cuò)誤或單次事件顛覆錯(cuò) 誤(single event upset error)的糾正，例如因?yàn)橹凶踊虬柗Ｗ幼矒羲a(chǎn)生的錯(cuò)誤。背景技術(shù)軟錯(cuò)誤或單次事件顛覆錯(cuò)誤(SEU)是電路內(nèi)節(jié)點(diǎn)的擾亂，起因是高能中子或阿爾 法粒子撞擊在硅基板上。這種撞擊可在例如處理器的集成電路內(nèi)的敏感節(jié)點(diǎn)處產(chǎn)生瞬間電 壓脈沖或狀態(tài)的變更。由于SEU，錯(cuò)誤可發(fā)生，其中它導(dǎo)致在確定集成電路的架構(gòu)狀態(tài)的狀 態(tài)保持元件中的狀態(tài)改變，這些元件例如處理器的架...
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