技術(shù)編號：6792502
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及一種儀器領(lǐng)域測量、測試中的測試裝置，特別是涉及一種驅(qū)動元件逐次驅(qū)動升降座、使晶片接觸基板，經(jīng)儲存使其可重復(fù)啟動驅(qū)動元件移動、測試晶片的晶片測試裝置?，F(xiàn)有習(xí)用的晶片在封裝之前必須先經(jīng)過測試其接線是否正常，即所謂裸測程度，早期裸測大都是一般習(xí)見的IC晶粒，在制作完成后即裝入一凹字型固定模內(nèi)，以便送至測試基板上做測試工作，然而此一工作傳統(tǒng)上皆是藉由人力以手工的程序來做測試，故十分耗費時間與人力，使整個測試工作相當(dāng)緩慢，因此也影響生產(chǎn)效率。近來有一種...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。