技術(shù)編號(hào)：6801968
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型是一種用來(lái)測(cè)試和快速老化篩選半導(dǎo)體集成電路穩(wěn)壓器(簡(jiǎn)稱“三端穩(wěn)壓塊”)的設(shè)備，屬半導(dǎo)體集成電路測(cè)試、老化、篩選設(shè)備領(lǐng)域。至今，各種三端穩(wěn)壓塊測(cè)試設(shè)備，只具有測(cè)試電壓調(diào)整率、電流調(diào)整率、紋波抑制比、靜態(tài)電流及其變化率等參數(shù)的功能，而無(wú)老化篩選功能。對(duì)三端穩(wěn)壓塊的老化篩選，則要將器件置于烘箱內(nèi)，使其達(dá)到規(guī)定的結(jié)溫，並恒溫貯存數(shù)小時(shí)再測(cè)試篩選。這種常規(guī)老化篩選的辦法，不僅費(fèi)電、費(fèi)時(shí)、成本高，而且只有熱失效模式而無(wú)電熱引力失效模式，其老化效果也不夠理想。...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。