技術(shù)編號：6818589
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及一種電容器高溫老化臺，用于鉭、云母、薄膜、低介、金屬化、鋁電解電容器進(jìn)行高溫負(fù)荷試驗，供用戶對電容器進(jìn)行老化篩選和可靠性試驗分析。目前使用的電容器試驗設(shè)備多采用被試驗電容器(下稱試品)通過保險絲或電阻連接老化電源，當(dāng)試品被擊穿，試驗電流熔斷保險絲，隨后需通過人工將電表逐個連入每個試品電流支路，當(dāng)測出電流為零時表明該試品為壞品。試驗結(jié)束后需逐個將熔斷的保險絲換下來。該設(shè)備有以下方面缺點一、自動化程度低，勞動生產(chǎn)率低、壞品位置需逐個人工識別，更換...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。