技術(shù)編號:68271
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種掃描隧道顯微鏡,具體涉及一種多探針共成像的超高真空四探針掃描隧道顯微鏡。背景技術(shù)掃描隧道顯微鏡,是一種利用量子理論中的隧道效應(yīng)探測物質(zhì)表面結(jié)構(gòu)的儀器,是將探針接近樣品表面,然后在樣品表面進行掃描,從而得到材料的表面信息。由于掃描隧道顯微鏡的探針針尖可以作為材料電輸運測量的電極,傳統(tǒng)的四引線或四探針方法可以由四個STM的探針來實現(xiàn),從而達到直接測量納米材料和結(jié)構(gòu)電學(xué)性質(zhì)的目的。由于納米材料和結(jié)構(gòu)是由有限個原子或分子組成,其表面吸附的雜質(zhì)原子或分子往往不可忽略,所以在大氣環(huán)境中難以測得其本征的物理...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。