技術(shù)編號(hào)：6835508
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明有關(guān)于一種事件良率關(guān)聯(lián)分析系統(tǒng)及方法，特別是一種使用統(tǒng)計(jì)的假設(shè)檢定方法，進(jìn)行事件良率關(guān)聯(lián)分析的系統(tǒng)及方法。背景技術(shù) 關(guān)聯(lián)分析系統(tǒng)通常從一個(gè)充滿大量紀(jì)錄的數(shù)據(jù)庫(kù)中，使用多種統(tǒng)計(jì)分析方法，求得兩事物之間的顯著關(guān)聯(lián)，用以提供企業(yè)經(jīng)營(yíng)者做更有效的決策。半導(dǎo)體制造是一個(gè)相當(dāng)精密的制造過(guò)程，任何出現(xiàn)在材料、機(jī)臺(tái)、人員或環(huán)境的瑕疵或偶發(fā)事件，都有可能讓制造中的晶片最終變成失敗的不良品。在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中，由于制造廠商必須使用昂貴的機(jī)器設(shè)備、無(wú)塵室來(lái)制作產(chǎn)品，為了降低厚...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。