技術編號：6855271
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種半導體器件測試方法，特別是一種半導體器件測試中測試向量的生成方法。背景技術 在半導體測試領域，對產(chǎn)品的測試評價的正確與否關系到對產(chǎn)品失效的正確分析，對產(chǎn)品的研發(fā)量產(chǎn)起著關鍵性的作用；測試評價的早日完成為產(chǎn)品推向市場贏得了時間。測試評價的基礎在于測試程序的開發(fā)，測試程序開發(fā)的時效性，可靠性是個關鍵問題。有時往往因為在產(chǎn)品的測試評價階段拖的時間過長，錯過產(chǎn)品推向市場的時機。閃存測試中，設計和開發(fā)測試向量是難點。測試向量設計好后還要經(jīng)過調試確認階段...
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