技術(shù)編號：6867602
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光學(xué)反饋系統(tǒng)，包括用于獲取用于調(diào)節(jié)相關(guān)光源輸出的信息或者用于處理相關(guān)于測量光束特征的干涉數(shù)據(jù)的光束監(jiān)視器。例如，測量光束的頻率和強(qiáng)度信息可從對與其它干涉數(shù)據(jù)相比很明顯的相位變化的測量而獲得。使用頻移干涉儀的可調(diào)諧源，對于使用頻率和強(qiáng)度信息存在特定實用性。背景技術(shù) 尤其是頻移干涉儀的干涉儀基于有關(guān)用于解釋干涉信息的測量光束頻率的假設(shè)。例如，干涉圖案通常通過將強(qiáng)度信息轉(zhuǎn)換成測量光束干涉部分之間的以2π相位為模的偏移而一個像素一個像素地解釋。然后將相位...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。