技術(shù)編號(hào):6901910
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種采用高效熱載流子注入(hot carrier injection, HCI)對(duì)非 易失性存儲(chǔ)器(NVM)單元編程的方法和結(jié)構(gòu)。背景技術(shù)如圖1所示,金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET) 10包括源極 13和漏極14 (分別連接到源電極13a和漏電極14a),源極13和漏極14的 每個(gè)都帶有與襯底15的雜質(zhì)類型相反的雜質(zhì)類型。源極13和漏極14被襯 底15中的溝道區(qū)域分開,該溝道區(qū)域在硅襯底15頂部上的電介質(zhì)層12上 形成的控制柵極11的...
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