技術編號：6949833
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種半導體集成電路，更具體而言，涉及一種在半導體裝置中用于切斷半導體集成電路的電熔絲并檢測電熔絲是否被切斷的電路(下文中稱之為“E熔絲檢測電路”)。背景技術在半導體集成電路中，利用熔絲來修復失效的單元、儲存芯片標識和向半導體裝置中提供各種模式信號。熔絲可以分為激光熔斷型(laser blowing type)和電熔斷型 (electricalblowing type)。在利用激光光束的熔斷型熔絲中，由于鄰近的熔絲線有可能受到激光光束輻射的影響，因...
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