技術(shù)編號:6952977
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體集成電路領(lǐng)域,特別是涉及一種超級結(jié)半導(dǎo)體器件的終端保護(hù)結(jié)構(gòu)。本發(fā)明還涉及所述超級結(jié)半導(dǎo)體器件的制作方法。背景技術(shù)超級結(jié)MOSFET (金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管)采用新的耐壓層結(jié)構(gòu),利用一系列交替排列的P型和N型半導(dǎo)體薄層(或稱半導(dǎo)體柱層),在截止?fàn)顟B(tài)且較低電壓下就將 P型區(qū)和N型區(qū)耗盡,實現(xiàn)電荷相互補(bǔ)償,使P型區(qū)和N型區(qū)在高摻雜濃度下能實現(xiàn)高的擊穿電壓,從而同時獲得低導(dǎo)通電阻和高擊穿電壓,打破傳統(tǒng)功率MOSFET理論極限。同已有的DMO...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。