技術(shù)編號：6996540
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種，特別涉及一種包括熔絲的。背景技術(shù)隨著半導(dǎo)體工藝的微小化以及復(fù)雜度的提高，半導(dǎo)體器件也變得更容易受各種缺陷或雜質(zhì)所影響，而單一金屬連線、二極管或晶體管等的失效往往即構(gòu)成整個芯片的缺陷。 因此為了解決這個問題，現(xiàn)有技術(shù)便會在集成電路中形成一些可熔斷的連接線(fusible links)，也就是熔絲(fuse)，以確保集成電路的可利用性。一般而言，熔絲連接集成電路中的冗余電路，一旦檢測發(fā)現(xiàn)電路具有缺陷時，這些連接線就可用于修復(fù)或取代有缺陷的電路。...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。