技術(shù)編號：7055734
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。用于快速且準確地對硅晶片中的鈍化缺陷進行繪圖的方法，包括例如，當在生產(chǎn)線中的傳送帶上輸送晶片時，采集光致發(fā)光(PL)圖像同時移動晶片。該方法可應(yīng)用于太陽能電池制造中的硅晶片的在線診斷。示例性實施例包括由單個光致發(fā)光強度圖像(圖)獲得整個晶片鈍化缺陷圖像的過程，并且為工藝控制提供快速的反饋。專利說明硅光伏電池的鈍化缺陷的光致發(fā)光繪圖[0001] 相關(guān)申請的交叉引用[0002] 本申請要求于2013年7月3日提交的、題為"PHOTOLUMINESCENCE M...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。