技術(shù)編號(hào):7073715
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種可靠性測(cè)試結(jié)構(gòu)版圖,尤其涉及一種保護(hù)封裝級(jí)可靠性測(cè)試樣品,減少靜電對(duì)樣品影響的版圖。背景技術(shù)圖I為普通器件的示意圖,圖2為普通器件模擬電路圖,請(qǐng)參見(jiàn)圖I和圖2所示。 包括有一待測(cè)器件1,該器件I具有源極2、漏極3、柵極4和基極5。目前的器件I可靠性實(shí)驗(yàn)用的樣品,都是單一器件結(jié)構(gòu),由于技術(shù)規(guī)格的限定柵極4面積(<10um*0. Ium)很小。 在受到靜電作用時(shí),極短的時(shí)間里通過(guò)了大電流(但是電量很小),導(dǎo)致柵極4被燒壞。特別是可靠性測(cè)試還...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。