技術(shù)編號(hào):7131798
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于半導(dǎo)體制造工藝,具體涉及一種接觸孔處理工藝中防止旁瓣被刻蝕轉(zhuǎn)移到襯底的方法。背景技術(shù)在先進(jìn)的半導(dǎo)體制造工藝中,PSM(移相掩膜)的使用越來越廣泛。尤其在接觸孔光刻方面,Attenuated PSM-弱化移相掩膜(或稱HalfTone Mask,意為半調(diào)膜)已經(jīng)成為0.18um及以下技術(shù)節(jié)點(diǎn)中通用的解決方案。但由于Attenuated PSM在非接觸孔區(qū)域也有6%(或8%)的透光率,在正??妆黄爻鰜淼耐瑫r(shí),Side lobe(旁瓣,或稱Dimple...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。