技術(shù)編號(hào):7361645
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供太陽(yáng)能電池的i-v特性測(cè)量裝置和i-v特性測(cè)量方法,例如對(duì)于異質(zhì)結(jié)太陽(yáng)能電池這樣的在施加電壓的掃描時(shí)間短時(shí)、I-V特性因掃描方向而不同的太陽(yáng)能電池,在使用閃光型的太陽(yáng)模擬器的情況下也能高精度測(cè)量真實(shí)I-V特性。所述I-V特性測(cè)量裝置包括內(nèi)分比計(jì)算部(68),在各電壓值下計(jì)算所述黑暗狀態(tài)穩(wěn)定I-V特性(DST)的電流值將黑暗狀態(tài)順向I-V特性(DIV)的電流值和黑暗狀態(tài)反向I-V特性(DVI)的電流值內(nèi)分的內(nèi)分比;以及明亮狀態(tài)穩(wěn)定i-v特性推斷計(jì)算...
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