技術(shù)編號(hào)：7521228
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明總體涉及電子裝置，且更特別地，涉及用于抗輻射電平移位的系統(tǒng)和方法。背景技術(shù)外太空已經(jīng)被證明對(duì)于電子電路而言是一種苛刻的環(huán)境。當(dāng)人造衛(wèi)星、航天飛機(jī)、航天探測(cè)器等離開地球大氣層時(shí)，他們攜帶的電子設(shè)備開始遭受離子化輻射，其水平/程度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于地球表面附近發(fā)現(xiàn)的那些。已經(jīng)知道，這些高輻射水平改變集成電路內(nèi)的部件的邏輯狀態(tài)，這會(huì)繼而導(dǎo)致性能退化，甚至是災(zāi)難性的失效。離子化輻射也在其他環(huán)境中呈現(xiàn)出問題，例如，核設(shè)施(例如，由于輻射材料的存在)、X光室、粒子加速器等...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無(wú)完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。