技術(shù)編號：7552018
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子，尤其涉及一種設(shè)備測試的方法及測試裝置。背景技術(shù)在電子設(shè)備的生產(chǎn)過程中，測試作為一個重要的環(huán)節(jié)，直接影響著生產(chǎn)的質(zhì)量和用戶對產(chǎn)品的體驗。以無線設(shè)備為例，無線設(shè)備的性能一般受PCB (Printed CircuitBoard，印制電路板)板材介電常數(shù)、元器件誤差和生產(chǎn)工藝的影響，導(dǎo)致生產(chǎn)出來的無線設(shè)備的性能指標(biāo)會出現(xiàn)一些誤差，為保持生產(chǎn)的無線設(shè)備能滿足用戶的使用，必須在生產(chǎn)過程中對無線設(shè)備進(jìn)行測試?，F(xiàn)有的測試過程繁雜，導(dǎo)致測試所需時間增長，直接...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。