技術(shù)編號：76077
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種對原子力顯微鏡采集的圖像進行特征提取的方法，更特別地說， 是指一種采用區(qū)域遍歷模式在原子力顯微鏡圖像(AFM圖像)上選取細節(jié)最豐富的子區(qū)域， 然后再次進行更高分辨率的掃描成像的方法。背景技術(shù)原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)是一種利用原子、分子間的相互 作用力來觀察物體表面微觀形貌的儀器。原子力顯微鏡有一根納米級的探針被固定在可靈 敏操控的微米級彈性懸臂上，當探針很靠近樣品時，其頂端的原子與樣品表面原子間的作 用力會使懸臂彎曲，偏離原來的位置。根據(jù)掃描樣品...
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