技術(shù)編號：7705540
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明是關(guān)于電子產(chǎn)品的功能測試技術(shù)，具體的講是一種基于存儲設(shè)備的功能測試方法、終端設(shè)備及系統(tǒng)。背景技術(shù)功能測試是電子產(chǎn)品加工過程中一道重要的質(zhì)量檢驗環(huán)節(jié)，它能幫助廠家檢驗大部分的器件來料不良和組裝加工不良。功能測試立足于生產(chǎn)，以檢驗產(chǎn)品硬件故障為主要目的，同時附帶配置產(chǎn)品制造信息等功能。在實現(xiàn)本發(fā)明過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題為了整機的美觀，同時受限于整機的尺寸大小，在消費電子類產(chǎn)品中，接口越來越少，甚至部分產(chǎn)品已經(jīng)不再提供調(diào)測從接口。例如...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。