技術編號：7923541
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。技術領域本發(fā)明涉及一種影像擷取方法，特別是涉及一種得到預定影像亮度與均勻度的影像擷取方法。 背景技術進行待測物影像檢測都必須取得特征明顯的待測物影像，才能確保進行檢測或量 測是否正確；而取得特征明顯的待測物影像，最重要的關鍵在于，如何對待測物施予均勻且 具有預定光輸出強度的照光，從而得到所需影像亮度的待測物影像。 以實際集成電路封裝體(IC Package)的標簽(marking)檢測為例，是對待測的集 成電路封裝體擷取有標簽部分的影像，再將其與預設的基礎影像作比對，進而判斷待測的 集成電路封裝體標簽是否符合出貨標...
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