技術編號：79854
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。技術領域本發(fā)明涉及原子力顯微鏡配套用薄膜樣品壓縮裝置，具體涉及對其結構的改進。背景技術為了將對納米材料和制品力學性能的測量和微觀形貌的檢測進行有機結合，原子力顯微鏡(AFM)等微納米觀察儀器要與一些力學測試裝置配合使用，從而可以深入地探索各類納米材料及制品的微觀損傷斷裂行為和機理，及其與載荷作用、材料結構和性能間的相關性規(guī)律?，F(xiàn)有一種跨尺度微納米級原位壓縮壓縮力學性能測試裝置，該發(fā)明有效的推動了原位納米壓縮測試裝置的發(fā)展。但是尚存在以下局限性此類設備對被測試樣尺寸結構限制嚴格；制作較為復雜，包含力傳感器、步進電機等...
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