技術編號：8031373
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。技術領域本發(fā)明涉及一種用于對于X射線裝置減小所產生的對象圖像中的放射硬化偽影的方法，其中由X射線放射器產生X射線，并通過由多個檢測器元件構成的檢測器從不同投影方向采集取決于X射線穿過該對象的衰減的測量值。本發(fā)明還涉及一種具有執(zhí)行該方法的裝置的計算機斷層造影設備。背景技術 由X射線裝置的X射線放射器產生的透射對象的X射線不是單頻的，而是具有取決于所設置的管電壓的能量譜。對于X射線在穿過物質時的被吸收程度，由于吸收系數(shù)取決于能量而使得能量少的X射線較之能量高的X射線被吸收得更多。這種被稱為放射硬化的效應主要取決于被透視...
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