技術(shù)編號:8032541
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。技術(shù)領(lǐng)域本實(shí)用新型涉及一種檢測裝置,特別是一種對小型硬盤進(jìn)行檢測的裝置。背景技術(shù)在硬盤的制造過程中,由于技術(shù)的復(fù)雜性,需要對硬盤性能測試的項(xiàng)目內(nèi)容非常之多,可達(dá)幾十項(xiàng)之多,測試的時(shí)間比較長,短的有幾個(gè)小時(shí),長的達(dá)十幾個(gè)小時(shí)。在這些測試中,由于硬盤主軸馬達(dá)的高速旋轉(zhuǎn),其間會產(chǎn)生大量的熱量,導(dǎo)致測試過程中硬盤的環(huán)境溫度升高;較高的環(huán)境溫度不利于將硬盤隨時(shí)產(chǎn)生的大量的熱量排走,如果硬盤的溫度愈來愈高,會嚴(yán)重影響硬盤的正常測試,例如導(dǎo)致硬盤的讀寫錯(cuò)誤,以及內(nèi)部機(jī)電元件的變形、失常和失效,輕者產(chǎn)生測試錯(cuò)誤,重者會使硬盤報(bào)廢,...
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