技術編號：8232469
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及用于借助輪廓數(shù)據(jù)來重建圖像數(shù)據(jù)的一種方法以及一種成像系統(tǒng)。背景技術計算機斷層斷層(CT)作為兩級的成像方法被公知。通過以X射線透射檢查對象并且采集X射線沿著其從X射線源至X射線探測器的路徑的衰減，在此采集投影數(shù)據(jù)。衰減由沿著射線路徑的被透射的材料引起，從而衰減也可以被理解為所有體積元素(體素)的衰減系數(shù)沿著射線路徑的線積分。所采集的投影數(shù)據(jù)不能被直接解釋，也就是其沒有給出檢查對象的透射的層的圖像。在第二步驟中通過重建方法才能從投影數(shù)據(jù)反計算出單個...
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