技術(shù)編號:8254465
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 隨著紅外成像技術(shù)的快速發(fā)展,對紅外成像系統(tǒng)的要求越來越高,對其測試技術(shù) 的需求也更加迫切。由于紅外光學(xué)材料的折射率溫度系數(shù)較大,紅外成像系統(tǒng)的成像質(zhì)量 更容易受到壞境溫度變化的影響,所W光學(xué)系統(tǒng)無熱化設(shè)計越來越受到光學(xué)設(shè)計人員的重 視。而目前國內(nèi)對紅外光學(xué)系統(tǒng)的測試方法還是主要停留在理論研究和計算機(jī)仿真階段, 測試的精度和置信度也相當(dāng)有限。發(fā)明內(nèi)容 本發(fā)明的目的是提供一種,通過測試被 測系統(tǒng)的離焦量、所成像點(diǎn)的大小、光斑能量分布等數(shù)據(jù),而自動完成對光學(xué)系...
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