技術編號：8451661
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。通常情況下，粒子會堆放在檢驗臺上進行檢驗，檢驗員通過觀察粒子表面，挑揀出表面有缺陷的粒子，現有技術中，檢驗員需要動手將堆放的粒子攤開再進行一一檢驗，粒子數量龐大，攤開也雜亂無章，檢驗起來費力，檢驗效率和檢驗精度不能同時兼顧。發(fā)明內容本發(fā)明所要解決的問題是提供一種分選粒子用的料倉，提高粒子表面缺陷檢驗的效率和精度。為了解決上述技術問題，本發(fā)明采用如下技術方案一種分選粒子用的料倉，所述料倉上設有進料口和出料口，所述出料口設在料倉的底部，所述料倉中設有傾斜板，所...
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