技術(shù)編號(hào):8471466
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。在半導(dǎo)體制造業(yè)中,有各種各樣的檢測(cè)設(shè)備,其中EM是用于檢測(cè)組成器件的薄膜的形貌、尺寸及特性的一個(gè)重要工具。常用的EM包括TEM(Transmiss1n ElectronMicroscope透射電子顯微鏡)和SEM (Scanning Electron Microscope掃描電子顯微鏡)。TEM的工作原理是將需檢測(cè)的樣片以切割、研磨、離子減薄等方式減薄,然后放入TEM觀測(cè)室,以高壓加速的電子束照射樣片,將樣片形貌放大、投影到屏幕上,照相,然后進(jìn)行分析,TE...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。