技術編號:8476601
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。1.摶術領域本發(fā)明整體涉及電子系統(tǒng)(諸如片上系統(tǒng)半導體器件)的測試。2.相關領域已知自動測試設備(通常稱為“測試儀”)用于測試許多類型的電子被測器件(DUT)。例如,已知用于測試印刷電路板和半導體器件的測試儀。在某些情況下,在電子器件制造期間使用測試儀。從功能上來看,測試儀用于識別缺陷,使得測試結果可用于通過依據(jù)測試結果調節(jié)某些操作來影響DUT的制造。例如,通常僅在對器件的測試指示器件正在正常工作的情況下才進行產生被封裝并運送給客戶的器件的制造步驟。如果此...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。