技術編號:8527868
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。 本發(fā)明涉及探測觸控面板觸摸位置的觸摸位置探測方法,使用該觸摸位置探測方 法的觸控面板檢測方法,以及觸控面板檢測裝置。背景技術 以往,已知的觸控面板是利用重心法探測觸摸位置,所述重心法是通過測定以網(wǎng) 格形狀配置的感應區(qū)域的靜電容量,從而計算復數(shù)個感應區(qū)域的靜電容量值的重心位置 (例如,參照專利文獻1)。 然而,如上所述,將各感應區(qū)域的靜電容量值的重心位置作為觸摸位置的探測方 法,具有觸摸位置的探測精密度低的問題。 現(xiàn)有技術文獻 專利文獻1 專利文獻1 日本...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。
請注意,此類技術沒有源代碼,用于學習研究技術思路。