技術(shù)編號(hào)：8544171
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 太陽能級(jí)多晶娃錠的質(zhì)量在制作電池片之前，僅通過檢測(cè)娃塊的平均電阻率及平 均少子壽命的數(shù)值進(jìn)行質(zhì)量初步判定，但是未考慮晶體生長形貌及晶體缺陷對(duì)質(zhì)量的影 響。若將娃塊的質(zhì)量判定交由現(xiàn)場(chǎng)的檢測(cè)人員肉眼判斷，該種判別方法明顯受檢測(cè)人員的 經(jīng)驗(yàn)差別不同而不同，且存在判定標(biāo)準(zhǔn)無數(shù)據(jù)化的缺陷，必然導(dǎo)致質(zhì)量判定效率低和判定 不準(zhǔn)的問題。該樣采用該種判定等級(jí)的多晶娃錠在給相應(yīng)廠家用于制作電池片時(shí)，制作效 果及電池片質(zhì)量往往與上述方法判定等級(jí)的多晶娃錠所應(yīng)制得的電池片質(zhì)量出...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。