技術(shù)編號(hào):8761081
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。晶體制作完后需要進(jìn)行檢測(cè)篩選,將達(dá)不到要求的晶體挑選出來。現(xiàn)在常人工手動(dòng)進(jìn)行檢測(cè),其檢測(cè)效率低,費(fèi)時(shí)費(fèi)力。另外檢測(cè)頭上的探針長(zhǎng)時(shí)間使用后,針頭與針座之間會(huì)出現(xiàn)接觸不良的現(xiàn)象,影響檢測(cè)效果。發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種設(shè)計(jì)合理,使用方便,能有效分選的晶體自動(dòng)分選機(jī)。本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是通過以下的技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的,本實(shí)用新型是一種晶體自動(dòng)分選機(jī),其特點(diǎn)是包括晶體振動(dòng)盤和檢測(cè)機(jī)構(gòu),所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)在晶體振動(dòng)盤的下前方...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。