技術編號：9052781
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。現(xiàn)有石英晶片在生產(chǎn)出貨前需要進行外觀上的挑選，意在將晶片外觀上存在的一些不良問題進行剔除，如缺角、破損、崩口、刮痕和裂片等。對于比較明顯的外觀缺陷，一般做法是人工在室內(nèi)燈光下直接目視或者利用放大鏡進行挑選；但當遇到一些如邊緣小崩口、輕微刮痕或者細微裂紋的時候，由于這些缺陷很不明顯，用肉眼甚至借用放大鏡也無法挑選，此時就只能使用顯微鏡去進行不良品的挑選，這樣挑選的效率就會大大降低，也增大了生產(chǎn)的成本，不適應現(xiàn)在社會大批量生產(chǎn)的需求。實用新型內(nèi)容本實用新型所要...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權(quán)，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。