技術(shù)編號：9138565
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。隨著無損檢測實時成像技術(shù)的迅猛發(fā)展，被檢測物體的體積越來越多種多樣，當(dāng)被檢測物體厚度太厚時，這時需要射線源陽極最大電壓達(dá)到320kV時才能將被檢測物體完全透照，但是當(dāng)被檢測物體較小卻很厚或者有孔洞時，顯示的圖像會出現(xiàn)吃光現(xiàn)象，因此只有用鉛厚度適用于射線源為320kV的光柵裝置才可以遮擋不想看到的被檢測物體部位，本實用新型不僅可以防止圖像吃光現(xiàn)象，更可以對圖像增強器和平板探測器中的電子元器件進(jìn)行保護(hù)，尤其是對平板探測器中的電子元器件的保護(hù)，如果能使X射線只射...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。