技術編號：9394936
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。三軸坐標測量設備上安裝的測頭類型一般分為接觸式和非接觸式兩種，接觸式測頭和非接觸式測頭各有優(yōu)缺點，有些場合下需要同時使用接觸式測頭和非接觸式測頭進行復合測量。然而現(xiàn)有的三軸坐標測量設備上，用接觸式測頭和非接觸式測頭得到的測量數(shù)據(jù)不是同一個坐標系下的值，不能直接合并使用。為了解決這個問題，目前使用的測量數(shù)據(jù)的對齊方法需要在工件上有兩種測頭都可測量的幾個公共元素，然后通過這些公共元素建立工件坐標系。然而，有些非接觸測頭，如光譜共焦測頭，存在測量角度問題，有時無...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。