技術(shù)編號(hào)：9545187
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。光彈性法是應(yīng)用光學(xué)原理研究彈性力學(xué)問題的一種實(shí)驗(yàn)應(yīng)力分析方法。將具有雙折射效應(yīng)的透明材料制成的結(jié)構(gòu)試件置于偏振光場中，當(dāng)給試件施加載荷時(shí)，即可看到試件上產(chǎn)生的干涉條紋圖。通過此干涉條紋就能準(zhǔn)確計(jì)算試件表面和試件內(nèi)部任意一點(diǎn)的應(yīng)力分布情況，因此特別適合于幾何形狀和結(jié)構(gòu)復(fù)雜的物體的應(yīng)力分析。在實(shí)際工作中，有一部分結(jié)構(gòu)是處于二維應(yīng)力狀態(tài)，或可以簡化為二維應(yīng)力狀態(tài)，但實(shí)際上很多結(jié)構(gòu)是處于三維應(yīng)力狀態(tài)，即在空間各點(diǎn)的應(yīng)力狀態(tài)是不同的。這就需要使用立體試件進(jìn)行三維光彈...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。