技術(shù)編號：9749443
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種掃描探針顯微鏡的探針，尤其涉及一種多參量耦合顯微鏡探針、其制備方法及探測方法。背景技術(shù)隨著納米科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，針對納米材料的測量技術(shù)應(yīng)運而生，其中最引人注目的是掃描探針顯微鏡(STM)技術(shù)。掃描探針顯微鏡(STM)技術(shù)是基于掃描隧道顯微鏡(SPM)基礎(chǔ)發(fā)展而來的，具有空間分辨率高，可在真空、大氣、甚至溶液等多種環(huán)境中變溫工作等諸多優(yōu)點，被廣泛應(yīng)用于物理學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)、電子學(xué)等研究領(lǐng)域。掃描探針顯微鏡是通過檢測探針與樣品之間的相互作用力或...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。