技術(shù)編號(hào)：9842940
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 目前，在遙測測控、衛(wèi)星通訊、衛(wèi)星導(dǎo)航、預(yù)警雷達(dá)等領(lǐng)域中對(duì)毫米波相控陣的應(yīng) 用逐漸增加，對(duì)毫米波相控陣的性能，尤其是指向精度的要求也越來越高。目前，毫米波相 控陣指向精度的主要測試標(biāo)校方法是通過平面近場掃描框架，對(duì)相控陣每個(gè)陣元的輻射性 能進(jìn)行掃描，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)通道間不一致性的修正。測試的儀器主要包括矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、平 面近場掃描轉(zhuǎn)臺(tái)等。 現(xiàn)有的標(biāo)校方法的主要問題是平面近場掃描需要對(duì)每個(gè)通道逐次掃描，工作量 巨大，且不能并向進(jìn)行，耗時(shí)嚴(yán)重;毫米波相控陣對(duì)掃描...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。