技術(shù)編號：9868382
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。電勢誘導(dǎo)衰減(PID)現(xiàn)象最早是Sunpower在2005年發(fā)現(xiàn)的，太陽能電池組件長期在高電壓作用下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致開路電壓，短路電流和填充因子降低，使組件性能低于設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)。而阻止此現(xiàn)象發(fā)生的方法有提高氮化硅薄膜的折射率，或者采用熱生長法，或者等離子體氣相沉積的方法在氮化硅和硅基體之間生長一層二氧化硅薄膜，但是由于提高氮化硅折射率會導(dǎo)致電池效率的降低，熱生長法和等離子氣相沉積法分別...
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