技術(shù)編號:9928963
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。SRAM型FPGA在空間領(lǐng)域的應(yīng)用除了要求其具有很高的可靠性以外,抗輻射是必須重點(diǎn)考慮的問題。SRAM型FPGA正常工作時,其中的觸發(fā)器和存儲器等單元存儲的數(shù)據(jù)常隨著電路的運(yùn)行而發(fā)生改變,這些存儲單元在數(shù)據(jù)保持穩(wěn)定不變的狀態(tài)下被高能粒子擊中和在數(shù)據(jù)發(fā)生改變的過程中被高能粒子擊中這兩種情況下的單粒子翻轉(zhuǎn)截面是否有差別,對SRAM型FPGA在空間輻射環(huán)境中工作的可靠性評價具有非常重要的意義。觸發(fā)器在FPGA中分布廣泛,在電路實(shí)際運(yùn)行過程中正常的翻轉(zhuǎn)也非常頻繁,...
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