本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種陣列基板的測試裝置、一種陣列基板、一種顯示裝置以及一種陣列基板的測試方法。

背景技術(shù)：

目前，在cellet(面板電學(xué))測試中，為了顯示單色畫面，需要將同一種顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端連接在一起，并保證每個線路均處于導(dǎo)通狀態(tài)，以進(jìn)行測試，而在moduleet(模組狀態(tài))時，為了防止ic的輸出信號發(fā)生短路，需要保證上述的每個線路均處于斷開狀態(tài)。

相關(guān)技術(shù)中，通過在每個線路中設(shè)置相應(yīng)的tft管，以在cellet測試時，通過控制tft管處于導(dǎo)通狀態(tài)來使每個線路處于導(dǎo)通狀態(tài)，而在moduleet時，通過控制該tft管處于斷開狀態(tài)，以防止ic的輸出信號發(fā)生短路。但是，由于tft管的源極線和漏極線比較細(xì)，在切割過程中，很容易發(fā)生裂紋或劃斷，造成線路連接不良，從而影響cellet測試結(jié)果。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問題之一。為此，本發(fā)明的第一個目的在于提出一種陣列基板的測試裝置，通過二極管來實現(xiàn)線路的導(dǎo)通和關(guān)斷，由于二極管的陽極線和陰極線可以做的比較寬，膜層少、段差小，所以在切割過程中出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性很小，從而可以保證測試線路的可靠性，進(jìn)而保證測試的準(zhǔn)確度。

本發(fā)明的第二個目的在于提出一種陣列基板。

本發(fā)明的第三個目的在于提出一種顯示裝置。

本發(fā)明的第四個目的在于提出一種陣列基板的測試方法。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第一方面實施例提出了一種陣列基板的測試裝置，包括：測試部，所述測試部包括測試端；多個二極管，所述多個二極管中的每個二極管的陰極分別與陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端對應(yīng)相連，所述多個二極管的陽極相連后與所述測試端相連，其中，在電學(xué)測試時，所述測試部通過所述測試端輸入測試信號至所述多個二極管的陽極，以通過所述多個二極管將所述測試信號傳輸至對應(yīng)的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端；在正常顯示時，通過所述測試端輸入低電平信號至所述多個二極管的陽極，以使所述多個二極管均處于截止?fàn)顟B(tài)。

根據(jù)本發(fā)明實施例的陣列基板的測試裝置，通過將多個二極管中的每個二極管的陰極分別與陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端對應(yīng)相連，將多個二極管的陽極相連后與測試端相連。在電學(xué)測試時，通過測試端輸入測試信號至多個二極管的陽極，以通過多個二極管將測試信號傳輸至對應(yīng)的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端，以及在正常顯示時，通過測試端輸入低電平信號至多個二極管的陽極，以使多個二極管均處于截止?fàn)顟B(tài)。由于二極管的陽極線和陰極線可以做的比較寬，膜層少、段差小，所以在切割過程中出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性很小，從而可以保證測試線路的可靠性。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，上述的陣列基板的測試裝置，還包括：多個電感，所述多個電感中的每個電感分別對應(yīng)設(shè)置在所述二極管的陽極與所述測試端之間，或者，所述多個電感中的每個電感分別對應(yīng)設(shè)置在所述二極管的陰極與所述數(shù)據(jù)信號輸入端之間。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述多個二極管中的每個二極管的陽極線和陰極線的寬度為8μm～10μm。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第二方面實施例提出了一種陣列基板，其包括上述的測試裝置。

根據(jù)本發(fā)明實施例的陣列基板，通過上述的測試裝置，將多個二極管中的每個二極管的陰極分別與陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端對應(yīng)相連，將多個二極管的陽極相連后與測試端相連，以通過二極管來實現(xiàn)線路的導(dǎo)通和關(guān)斷。由于二極管的陽極線和陰極線可以做的比較寬，膜層少、段差小，所以在切割過程中出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性很小，從而可以保證測試線路的可靠性，進(jìn)而保證測試的準(zhǔn)確度。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第三方面實施例提出了一種顯示裝置，其包括上述的陣列基板。

根據(jù)本發(fā)明實施例的顯示裝置，通過上述的陣列基板，將多個二極管中的每個二極管的陰極分別與陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端對應(yīng)相連，將多個二極管的陽極相連后與測試端相連，以通過二極管來實現(xiàn)線路的導(dǎo)通和關(guān)斷。由于二極管的陽極線和陰極線可以做的比較寬，膜層少、段差小，所以在切割過程中出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性很小，從而可以保證測試線路的可靠性，進(jìn)而保證測試的準(zhǔn)確度。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第四方面實施例提出了一種陣列基板的測試方法，包括以下步驟：在陣列基板上制備多個二極管，并將多個二極管中的每個二極管的陰極分別對應(yīng)連接到所述陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端；在電學(xué)測試時，輸入測試信號至所述多個二極管的陽極，以通過所述多個二極管將所述測試信號傳輸至對應(yīng)的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端；在正常顯示時，輸入低電平信號至所述多個二極管的陽極，以使所述多個二極管均處于截止?fàn)顟B(tài)。

根據(jù)本發(fā)明實施例的陣列基板的測試方法，在陣列基板上制備多個二極管，并將多個二極管中的每個二極管的陰極分別對應(yīng)連接到陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端。在電學(xué)測試時，輸入測試信號至多個二極管的陽極，以通過多個二極管將測試信號傳輸至對應(yīng)的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端；在正常顯示時，輸入低電平信號至多個二極管的陽極，以使多個二極管均處于截止?fàn)顟B(tài)。由于二極管的陽極線和陰極線可以做的比較寬，膜層少、段差小，所以在切割過程中出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性很小，從而可以保證測試線路的可靠性，進(jìn)而保證測試的準(zhǔn)確度。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述多個二極管中的每個二極管的陽極線和陰極線的寬度為8μm～10μm。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，每個二極管的陽極還對應(yīng)設(shè)置有第一電感。

根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，在所述二極管的陰極與所述數(shù)據(jù)信號輸入端之間還設(shè)置有第二電感。

附圖說明

圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的陣列基板的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2a是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的陣列基板的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2b是根據(jù)本發(fā)明另一個實施例的陣列基板的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的陣列基板的測試方法的流程圖。

具體實施方式

下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，旨在用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。

下面參照附圖來描述根據(jù)本發(fā)明實施例提出的陣列基板的測試裝置、陣列基板、顯示裝置以及陣列基板的測試方法。

圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的陣列基板的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，本發(fā)明實施例的陣列基板的測試裝置可包括：測試部110和多個二極管120。

其中，測試部110包括測試端，多個二極管120中的每個二極管的陰極分別與陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端對應(yīng)相連，多個二極管120的陽極相連后與測試端相連。在電學(xué)測試時，測試部110通過測試端輸入測試信號至多個二極管120的陽極，以通過多個二極管120將測試信號傳輸至對應(yīng)的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端；在正常顯示時，通過測試端輸入低電平信號至多個二極管120的陽極，以使多個二極管120均處于截止?fàn)顟B(tài)。

具體而言，通常為了實現(xiàn)顯示器的全彩色化，會采用彩色濾光片產(chǎn)生rgb三原光，再將三原光以不同的強(qiáng)弱比例混合而呈現(xiàn)各種色彩，使顯示器顯示出全彩。對于該類顯示器對應(yīng)的陣列基板，在電學(xué)測試時，需要將同一種顏色的所有亞像素(這里指一個矩陣點或者一個基本的顯示單元)的數(shù)據(jù)信號輸入端連接在一起，并保證每個線路均處于導(dǎo)通狀態(tài)，以實現(xiàn)單色畫面的顯示，而在測試結(jié)束后，在陣列基板正常顯示時(如處于模組狀態(tài)時)，需要保證上述的每個線路均處于斷開狀態(tài)，以防止ic(外部控制單元)的輸出信號發(fā)生短路。

為了實現(xiàn)各個線路的通斷，通常采用tft管來實現(xiàn)，即在每個線路中設(shè)置一個tft管，這樣在進(jìn)行電學(xué)測試時，控制各個tft管處于導(dǎo)通狀態(tài)，以實現(xiàn)單色畫面的顯示測試，而在正常顯示時，控制各個tft管處于斷開狀態(tài)，以防止ic的輸出信號發(fā)生短路。

但是，由于tft管的源極線和漏極線比較細(xì)，在切割等工藝過程中，很容易發(fā)生裂紋或劃斷，造成線路連接不良，從而影響電學(xué)測試結(jié)果。例如，陣列基板上的某一亞像素處于正常狀態(tài)，但是在電學(xué)測試時，由于該亞像素對應(yīng)的tft管無法正常導(dǎo)通，所以在輸入測試信號至該亞像素時，該測試信號無法通過tft管傳輸至亞像素中，從而導(dǎo)致亞像素?zé)o法正常顯示，此時測試人員會將該陣列基板列為不合格產(chǎn)品，但實際上該陣列基板完全正常，所以會導(dǎo)致誤判。

而為了有效解決上述問題，在本發(fā)明的實施例中，由二極管來代替tft管，以充分利用二極管的特性，如二極管的陽極線和陰極線的寬度可以做的比較寬，膜層少、段差小，這樣在切割等工藝過程中，出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性就很小，在電學(xué)測試時，就可以保證二極管的可靠導(dǎo)通，從而提高測試的準(zhǔn)確度。

在本發(fā)明的實施例中，多個二極管中的每個二極管的陽極線和陰極線的寬度可以為8μm～10μm。

具體地，如圖1所示，當(dāng)需要對紅色亞像素進(jìn)行測試時，測試部110輸出測試信號(測試電壓)至每個紅色亞像素對應(yīng)的二極管(如二極管d121、二極管d122和二極管d123)的陽極，此時二極管導(dǎo)通，通過二極管將測試信號輸入至相應(yīng)的數(shù)據(jù)信號輸入端，然后通過icbump(如icbump1、icbump2和icbump3)輸入至相應(yīng)的紅色亞像素，以使紅色亞像素按照對應(yīng)的測試信號進(jìn)行顯示。由于在切割等工藝過程中，二極管的線路不容易損壞，線路良好，所以當(dāng)某一紅色亞像素未正常顯示時，可以判斷該亞像素發(fā)生故障，從而有效避免了因線路損壞導(dǎo)致的誤判問題。而在正常顯示時，直接將每個紅色亞像素的二極管的陽極接低電平信號vgl，以防止ic的輸出信號發(fā)生短路。

其中，需要說明的是，icbump是連接線，作為亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端，在該icbump上可設(shè)置多個孔，其中一個孔與對應(yīng)二極管的陰極相連，一個孔與ic的數(shù)據(jù)信號輸出端相連，一個孔與對應(yīng)的亞像素的電源端相連，這樣在進(jìn)行電學(xué)測試時，接收測試部110輸出的測試信號，而在正常顯示時，接收ic輸出的數(shù)據(jù)信號。另外，對于綠色亞像素和藍(lán)色亞像素，與紅色亞像素相同，均通過二極管進(jìn)行連接，并且對二極管的控制也是相同的，具體這里就不再詳述。

進(jìn)一步地，根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，如圖2a和圖2b所示，上述的陣列基板的測試裝置還包括：多個電感130，多個電感130中的每個電感分別對應(yīng)設(shè)置在二極管的陽極與測試端之間，或者，多個電感中的每個電感分別對應(yīng)設(shè)置在二極管的陰極與數(shù)據(jù)信號輸入端之間。

具體地，如圖2a和圖2b所示，在正常顯示時(如處于模組狀態(tài)時)，由于電感(如電感l(wèi)131、電感l(wèi)132和電感l(wèi)133)的存在，使得二極管的漏電流可以比較小，偏壓比較小，反向額定擊穿電壓比較小，所以在對二極管進(jìn)行制備時，工藝比較容易實現(xiàn)。例如，在實際制備過程中，可在薄膜上進(jìn)行離子注入，以形成pn型二極管，或者通過金屬-半導(dǎo)體制作整流接觸(又叫肖特基接觸，是特定金屬與半導(dǎo)體(常為n型半導(dǎo)體)的接觸，類似于pn型二極管)。

綜上所述，根據(jù)本發(fā)明實施例的陣列基板的測試裝置，通過將多個二極管中的每個二極管的陰極分別與陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端對應(yīng)相連，將多個二極管的陽極相連后與測試端相連，以通過二極管來實現(xiàn)線路的導(dǎo)通和關(guān)斷。由于二極管的陽極線和陰極線可以做的比較寬，膜層少、段差小，所以在切割過程中出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性很小，從而可以保證測試線路的可靠性。并且，通過在二極管的陽極或者陰極上設(shè)置電感，可以有效降低二極管的漏電流、偏壓以及反向額定擊穿電壓，進(jìn)而使得二極管的制備更加容易。

另外，本發(fā)明的實施例還提出了一種陣列基板，其包括上述的測試裝置。

根據(jù)本發(fā)明實施例的陣列基板，通過上述的測試裝置，將多個二極管中的每個二極管的陰極分別與陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端對應(yīng)相連，將多個二極管的陽極相連后與測試端相連，以通過二極管來實現(xiàn)線路的導(dǎo)通和關(guān)斷。由于二極管的陽極線和陰極線可以做的比較寬，膜層少、段差小，所以在切割過程中出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性很小，從而可以保證測試線路的可靠性，進(jìn)而保證測試的準(zhǔn)確度。并且，通過在二極管的陽極或者陰極上設(shè)置電感，可以有效降低二極管的漏電流、偏壓以及反向額定擊穿電壓，進(jìn)而使得二極管的制備更加容易。

此外，本發(fā)明的實施例還提出了一種顯示裝置，其包括上述的陣列基板。

根據(jù)本發(fā)明實施例的顯示裝置，通過上述的陣列基板，將多個二極管中的每個二極管的陰極分別與陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端對應(yīng)相連，將多個二極管的陽極相連后與測試端相連，以通過二極管來實現(xiàn)線路的導(dǎo)通和關(guān)斷。由于二極管的陽極線和陰極線可以做的比較寬，膜層少、段差小，所以在切割過程中出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性很小，從而可以保證測試線路的可靠性，進(jìn)而保證測試的準(zhǔn)確度。并且，通過在二極管的陽極或者陰極上設(shè)置電感，可以有效降低二極管的漏電流、偏壓以及反向額定擊穿電壓，進(jìn)而使得二極管的制備更加容易。

圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的陣列基板的測試方法的流程圖。如圖3所示，本發(fā)明實施例的陣列基板的測試方法可包括以下步驟：

s1，在陣列基板上制備多個二極管，并將多個二極管中的每個二極管的陰極分別對應(yīng)連接到陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，多個二極管中的每個二極管的陽極線和陰極線的寬度為8μm～10μm。

s2，在電學(xué)測試時，輸入測試信號至多個二極管的陽極，以通過多個二極管將測試信號傳輸至對應(yīng)的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端。

s3，在正常顯示時，輸入低電平信號至多個二極管的陽極，以使多個二極管均處于截止?fàn)顟B(tài)。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，每個二極管的陽極還對應(yīng)設(shè)置有第一電感。

根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，在二極管的陰極與數(shù)據(jù)信號輸入端之間還設(shè)置有第二電感。

需要說明的是，本發(fā)明實施例的陣列基板的測試方法中未披露的細(xì)節(jié)，請參考本發(fā)明實施例的陣列基板的測試裝置中所披露的細(xì)節(jié)，具體這里不再贅述。

根據(jù)本發(fā)明實施例的陣列基板的測試方法，在陣列基板上制備多個二極管，并將多個二極管中的每個二極管的陰極分別對應(yīng)連接到陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端。在電學(xué)測試時，輸入測試信號至多個二極管的陽極，以通過多個二極管將測試信號傳輸至對應(yīng)的亞像素的數(shù)據(jù)信號輸入端；在正常顯示時，輸入低電平信號至多個二極管的陽極，以使多個二極管均處于截止?fàn)顟B(tài)。由于二極管的陽極線和陰極線可以做的比較寬，膜層少、段差小，所以在切割過程中出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性很小，從而可以保證測試線路的可靠性，進(jìn)而保證測試的準(zhǔn)確度。并且，通過在二極管的陽極或者陰極上設(shè)置電感，可以有效降低二極管的漏電流、偏壓以及反向額定擊穿電壓，進(jìn)而使得二極管的制備更加容易。

在本發(fā)明的描述中，需要理解的是，術(shù)語“中心”、“縱向”、“橫向”、“長度”、“寬度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”“內(nèi)”、“外”、“順時針”、“逆時針”、“軸向”、“徑向”、“周向”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。

此外，術(shù)語“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個該特征。在本發(fā)明的描述中，“多個”的含義是至少兩個，例如兩個，三個等，除非另有明確具體的限定。

在本發(fā)明中，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”、“固定”等術(shù)語應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或成一體；可以是機(jī)械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通或兩個元件的相互作用關(guān)系，除非另有明確的限定。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。

在本發(fā)明中，除非另有明確的規(guī)定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接觸，或第一和第二特征通過中間媒介間接接觸。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或僅僅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或僅僅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本說明書的描述中，參考術(shù)語“一個實施例”、“一些實施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點包含于本發(fā)明的至少一個實施例或示例中。在本說明書中，對上述術(shù)語的示意性表述不必須針對的是相同的實施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點可以在任一個或多個實施例或示例中以合適的方式結(jié)合。此外，在不相互矛盾的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以將本說明書中描述的不同實施例或示例以及不同實施例或示例的特征進(jìn)行結(jié)合和組合。

盡管上面已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實施例，可以理解的是，上述實施例是示例性的，不能理解為對本發(fā)明的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以對上述實施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。