技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種陣列基板及其測(cè)試裝置、方法以及顯示裝置，其中測(cè)試裝置包括測(cè)試部，測(cè)試部包括測(cè)試端；多個(gè)二極管，多個(gè)二極管中的每個(gè)二極管的陰極分別與陣列基板中同一顏色的亞像素的數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端對(duì)應(yīng)相連，多個(gè)二極管的陽極相連后與測(cè)試端相連，其中，在電學(xué)測(cè)試時(shí)，測(cè)試部通過測(cè)試端輸入測(cè)試信號(hào)至多個(gè)二極管的陽極，以通過多個(gè)二極管將測(cè)試信號(hào)傳輸至對(duì)應(yīng)的亞像素的數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端；在正常顯示時(shí)，通過測(cè)試端輸入低電平信號(hào)至多個(gè)二極管的陽極，以使多個(gè)二極管均處于截止?fàn)顟B(tài)。由于二極管的陽極線和陰極線可以做的比較寬，膜層少、段差小，所以在切割過程中出現(xiàn)裂紋或劃斷的可能性很小，從而可以保證測(cè)試線路的可靠性。

技術(shù)研發(fā)人員：侯濤;賈東旺;廖小剛;暴軍萍;王靜
受保護(hù)的技術(shù)使用者：京東方科技集團(tuán)股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.07.31
技術(shù)公布日：2017.11.07